| |
Бехтин, Ю. С.
Вейвлет-обработка ик-изображений для компенсации дрейфа вольтовой чувствительности элементов фотоэлектронных модулей [Текст] / Ю. С. Бехтин, Д. В. Титов
// Изв.ВУЗов.Приборостроение. – 2008. – 51, № 2. – 10-15.
Дрейф вольтовой чувствительности элементов матриц фотоэлектронных модулей рассматривается как мультипликативный шум на изображениях |
