| |
Горлов, М. И.
Диагностика надежности ИС по НЧ-шуму с использованием термоциклирования [Текст] / М. И. Горлов, Н. Н. Козьяков, Д. Ю. Смирнов
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2007. – № 4. – 89-91.
Методы отбраковочных испытаний фактически ускоряют проявление внутренних дефектов полупроводниковых изделий и предназначаются для обнаружения ранних отказов |
