| |
Анализ тонкопленочных и наноструктурных материалов. Часть 1 [Текст] / И. А. Косско, В. Д. Курочкин, В. Г. Кравец, А. А. Крючин
// Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2007. – 1(13). – 67-83.
Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов |
